MiniTest涂层测厚仪功能 
 | 型号 | 1100  | 2100  | 3100  | 4100  |  | MINITEST 存储的数据量  |  | 应用行数(根据不同探头或测试条件而记忆的校准基础数据数) | 1  | 1  | 10  | 99  |  | 每个应用行下的组(BATCH)数(对组内数据自动统计,并可设宽容度极限值) | -  | 1  | 10  | 99  |  | 可用各自的日期和时间标识特性的组数 | -  | 1  | 500  | 500  |  | 数据总量 | 1  | 10000  | 10000  | 10000  |  | MINITEST统计计算功能  |  | 读数的六种统计值x,s,n,max,min,kvar | -  | √  | √  | √  |  | 读数的八种统计值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk | -  | -  | √  | √  |  | 组统计值六种x,s,n,max,min,kvar | -  | -  | √  | √  |  | 组统计值八种x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk | -  | -  | √  | √  |  | 存储显示每一个应用行下的所有组内数据 | -  | -  | -  | √  |  | 分组打印以上显示和存储的数据和统计值 | -  | -  | √  | √  |  | 显示并打印测量值、打印的日期和时间 | -  | √  | √  | √  |  | 其他功能  |  | 透过涂层进行校准(CTC) | -  | √  |  |  |  | 在粗糙表面上作平均零校准 | √  | √  | √  | √  |  | 利用计算机进行基础校准 | √  | √  | √  | √  |  | 补偿一个常数(Offset) | -  | -  | √  | √  |  | 外设的读值传输存储功能 | -  | √  | √  | √  |  | 保护并锁定校准设置 | √  | √  | √  | √  |  | 更换电池是存储数值 | √  | √  | √  | √  |  | 设置极限值 | -  | -  |  |  |  | 公英制转换 | √  | √  | √  | √  |  | 连续测量模式快速测量,通过模拟柱识别*大*小值 | -  | -  |  |  |  | 连续测量模式中测量稳定后显示读数 | -  | -  |  |  |  | 浮点和定点方式数据传送 | √  | √  | √  | √  |  | 组内单值延迟显示 | -  | √  | √  | √  |  | 连续测量模式中显示*小值 | √  | √  |  |  |  
  MiniTest涂层测厚仪可选探头参数(探头图示) 所有探头都可配合任一主机使用。在选择*适用的探头时需要考虑覆层厚度,基体材料以及基体的形状、厚度、大小、几何尺寸等因素。 F型探头:测量钢铁基体上的非磁性覆层  N型探头:测量有色金属基体上的绝缘覆层  FN两用探头:同时具备F型和N性探头的功能
 探头  | 量程  | 低端 分辨率  | 误差  | *小曲率 半径(凸/凹)  | *小测量 区域直径  | *小基 体厚度  | 探头尺寸  |  磁 感 应 法                | F05  | 0-500μm  | 0.1μm  | ±(1%±0.7μm)  | 1/5mm  | 3mm  | 0.2mm  | φ15x62mm  |  F1.6  | 0-1600μm  | 0.1μm  | ±(1%±1μm)  | 1.5/10mm  | 5mm  | 0.5mm  | φ15x62mm  |  F1.6/90  | 0-1600μm  | 0.1μm  | ±(1%±1μm)  | 平面/6mm  | 5mm  | 0.5mm  | φ8x8x170mm  |  F3  | 0-3000μm  | 0.2μm  | ±(1%±1μm)  | 1.5/10mm  | 5mm  | 0.5mm  | φ15x62mm  |  F10  | 0-10mm  | 5μm  | ±(1%±10μm)  | 5/16mm  | 20mm  | 1mm  | φ25x46mm  |  F20  | 0-20mm  | 10μm  | ±(1%±10μm)  | 10/30mm  | 40mm  | 2mm  | φ40x66mm  |  F50  | 0-50mm  | 10μm  | ±(3%±50μm)  | 50/200mm  | 300mm  | 2mm  | φ45x70mm  |  两 用        | FN1.6  | 0-1600μm  | 0.1μm  | ±(1%±1μm)  | 1.5/10mm  | 5mm  | F0.5mm N50μm  | φ15x62mm  |  FN1.6P  | 0-1600μm  | 0.1μm  | ±(1%±1μm)  | 平面  | 30mm  | F0.5mm N50μm  | φ21x89mm  |  FN2  | 0-2000μm  | 0.2μm  | ±(1%±1μm)  | 1.5/10mm  | 5mm  | F0.5mm N50μm  | φ15x62mm  |  电 涡 流 法                    | N02  | 0-200μm  | 0.1μm  | ±(1%±0.5μm)  | 1/10mm  | 2mm  | 50μm  | φ16x70mm  |  N.08Cr  | 0-80μm  | 0.1μm  | ±(1%±1μm)  | 2.5mm  | 2mm  | 100μm  | φ15x62mm  |  N1.6  | 0-1600μm  | 0.1μm  | ±(1%±1μm)  | 1.5/10mm  | 2mm  | 50μm  | φ15x62mm  |  N1.6/90  | 0-1600μm  | 0.1μm  | ±(1%±1μm)  | 平面/10mm  | 5mm  | 50μm  | φ13x13x170mm  |  N10  | 0-10mm  | 10μm  | ±(1%±25μm)  | 25/100mm  | 50mm  | 50μm  | φ60x50mm  |  N20  | 0-20mm  | 10μm  | ±(1%±50μm)  | 25/100mm  | 70mm  | 50μm  | φ65x75mm  |  N100  | 0-100mm  | 100μm  | ±(1%±0.3mm)  | 100mm/平面  | 200mm  | 50μm  | φ126x155mm  |  CN02  | 10-200μm  | 0.2μm  | ±(1%±1μm)  | 平面  | 7mm  | 无限制  | φ17x80mm  |  
 | 注: | F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90为直角探头,用于管内测量。 N.08Cr适合铜上铬,FN2也适合铜上铬。 CN02用于绝缘体上的有色金属覆层。  |  
  MiniTest涂层测厚仪探头图示
   | FN1.6 0~1600μm,φ5mm 两用测头,可测铜铁基体上的非磁性覆层与有色金属 基体上的绝缘覆层 量程低端分辨率很高(0.1μm)
 
  |    | FN1.6P 0~1600μm,φ30mm 两用测头, 特别适合测粉末状的覆层厚度
 
 
  |    | F05 0~500μm,φ3mm 磁性测头,适于测量细小钢铁物体的薄覆层,如金属镀层,氧化层等 量程低端分辨宰很高(0.1μm)
 
  |    | F1.6 0~1600μm,φ5mm 磁性测头 量程低端分辨率很高(0.1μm)
 
  |    | F3 0~3000μm,φ5mm 磁性测头 可用于较厚的覆层
 
  |    | F1.6/90 0~1600μm,φ5mm 90度磁性测头 尤其适合于在管内壁测量 量程低端分辨率很高(0.1μm)
 
  |    | F10 0~10mm,φ20mm 适合测量钢结构(如水箱、管道等)上的防腐覆层,如玻璃、塑胶、混凝土等
 
 
  |    | F20 0~20mm,φ40mm 适合测量钢结构(如水箱、管道等)上的防腐覆层,如玻璃、塑胶、混凝土等 
 
  |    | F50 0~50mm,φ300mm 适合测量钢结构(如水箱、管道等)上的防腐覆层的隔音覆层
 
  |    | N02 0~200μm,φ2mm 非磁性测头,尤其适合测量有色金属基体上的氧化层等很薄的绝缘覆层 量程低端分辨率很高(0.1μm)
 
  |    | N0.8Cr 0~80μm,φ2mm 适用于测量铜、铝、黄铜上的极薄镀铬层
 
  |    | N1.6 0~1600μm,φ2mm 非磁性测头,适于测量有色金属基体上的较薄的绝缘覆层 量程低端分辨率很高(0.1μm)
 
  |    | N1.6/90 0~1600μm,φ5mm 磁性测头,适于测量较薄的绝缘覆层 尤其适合在管内壁测量 量程低端分辨率很高(0.1μm)
 
  |    | N10 0~10mm,φ50mm 非磁性测头,适于测量较厚的绝缘覆层,如橡胶玻璃等
 
  |    | N20 0~20mm,φ70mm 非磁性测头,适于测量较厚的绝缘覆层,如橡胶玻璃等
 
  |    | N100 0~100mm,200mm 非磁性测头,适于测量较厚的绝缘覆层,如橡胶玻璃等
  |    | CN02 10~200μm,φ7mm 用于测量绝缘材料上的有色金属覆层,如覆铜板 |  
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